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美国ASD重磅推出FieldSpec 4地物光谱仪Hi-Res NG

日期: 2015-07-31
浏览次数: 47

美国ASD公司(现隶属于荷兰帕纳科)重磅推出FieldSpec 4地物光谱仪Hi-Res NG,将光谱分辨率提升至6nm,这进一步提高了下一代高光谱成像传感器的分析精度,是地物光谱仪器的一次重要变革。

美国ASD重磅推出FieldSpec 4地物光谱仪Hi-Res NG      

更高分辨率的高光谱仪器可以协助用户提高遥感分类应用的精度,识别更多之前无法从高光谱图像中获取的点像元信息。为了充分发挥下一代传感器的潜能,那么基于地面测量的光谱仪器满足或者超越成像传感器的光谱分辨率,如果分辨率达不到高光谱成像的要求,那么数据在后处理过程中会因插值而丢失重要的光谱信息。
      FieldSpec 4 Hi-Res NG 地物光谱仪大大提升了光谱分辨率,正是为了满足下一代高光谱成像系统(如:AVRIS-NG、HySpex ODIN-1024)的严格要求而设计。除了优越的光谱分辨率,像所有ASD地物光谱仪一样,FieldSpec 4 Hi-Res NG采用InGaAs SWIR检测器,在350nm到2500nm的全光谱范围进行1875波段(编码通道)的检测,从而提供更小的采样间隔(采样带宽),确保可以检出样品最细微的光谱特征。

美国ASD重磅推出FieldSpec 4地物光谱仪Hi-Res NG

性能指标

波长范围
350-2500 nm
 
光谱分辨率
3 nm @ 700 nm
6 nm  @ 1400/2100 nm
采样间隔
1.4 nm @ 350-1000 nm
1.1 nm @ 1001-2500 nm
扫描时间
100 ms
杂散光
VNIR 0.02%, SWIR 1 & 2 0.01%
波长重复性
0.1 nm
波长准确度
0.5 nm
最大辐射
VNIR 2 倍太阳光, SWIR 10 倍太阳光
通道数
2151
检测器
VNIR 检测器 (350-1000 nm): 512 像元硅阵列传感器
SWIR 1 
检测器 (1001-1800 nm): InGaAs 检测器, TE 制冷
SWIR 2 
检测器 (1801-2500 nm): InGaAs 检测器, TE 制冷
输入
1.5 m 光纤(25° 视场). 可选前置镜头改变视场角
等效噪声辐射(外接光纤)
VNIR  1.0 X10-9  W/cm2/nm/sr @700 nm
SWIR 1  8.0 X10-9  W/cm2/nm/sr @ 1400 nm
SWIR 2  8.0 X10-9  W/cm2/nm/sr @ 2100 nm
 
重量
5.44 kg
校准
波长绝对反射率辐射度*, 福照度*.所有的校准可NIST溯源. (*辐射定标可选)
电脑
Windows®
保修
一年整机保修(包含专家支持)


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