2016年11月8日-9日，第三届高光谱成像技术及应用研讨会在苏州凯莱酒店举办，会议由国家自然基金委员会、中国工程院信息与电子工程学部、中国光学工程学会、中国遥感应用协会主办，高分辨率对地观测系统重大专项应用技术中心、苏州大学现代光学所、中国宇航学会光电技术专业委员会承办，来自全国各地近300名专家学者参加了会议。
应主办方盛情邀请，北京理加联合科技有限公司参加了会议，展出了美国ASD地物光谱仪FieldSpec 4、美国Resonon高光谱成像仪Pika L；同时，理加联合技术工程师韩善龙在会上向与会专家介绍了美国ASD地物光谱仪、美国Resonon高光谱成像仪及加拿大ITRES机载高光谱成像仪的应用，赢得了与会专家的一致认可和赞誉。
美国ASD便携式地物光谱仪FieldSpec4：波长范围350~2500nm，光谱分辨率可达6nm，应用其发表的文献已经超过万篇，是遥感及相关领域更专业的测量设备和工作标准。
美国Resonon高光谱成像仪Pika L：重量轻至0.6Kg，是无人机载高光谱成像的理想选择。
加拿大ITRES高光谱成像仪：覆盖了紫外、可见光近红外、短波红外、中波红外及长波红外，具有更高的成像精度和分辨率。
高光谱遥感能够有效探测和精细识别观测目标的光谱特性，是遥感领域的前沿科技，对遥感事业发展具有革命性推动作用。本次会议的召开，更好地推动了高分专项研究项目的协同发展，有效的促进了我国高光谱技术发展及遥感应用。